વૃદ્ધ સિરામિક કેપેસિટરના છુપાયેલા જોખમો શું છે?

પ્ર: સિરામિક કેપેસિટર્સ વૃદ્ધત્વની ઘટનાથી પ્રભાવિત થાય છે

સિરામિક કેપેસિટર્સ ડાઇલેક્ટ્રિક ક્રિસ્ટલ સ્ટ્રક્ચરમાં ફેરફાર સાથે સંકળાયેલ વૃદ્ધાવસ્થાની ઘટનાઓથી પ્રભાવિત થાય છે, જે ડાઇલેક્ટ્રિક સામગ્રીના પ્રારંભિક ફાયરિંગ પછી કેપેસીટન્સ અને ડિસીપેશન ફેક્ટરમાં ફેરફાર તરીકે પોતાને પ્રગટ કરે છે.સ્થાપિત મોડલ્સ સાથે સુસંગત, EIA વર્ગ I ડાઇલેક્ટ્રિક સામગ્રીઓ ન્યૂનતમ અસર કરે છે અને તે વ્યાપકપણે બિન-વૃદ્ધ તરીકે ઓળખાય છે, જ્યારે EIA વર્ગ II ડાઇલેક્ટ્રિક સામગ્રીઓ સાધારણ રીતે પ્રભાવિત થાય છે અને EIA વર્ગ III સામગ્રીઓ ખૂબ ગંભીર રીતે પ્રભાવિત થાય છે.આ વૃદ્ધત્વ પ્રક્રિયાને સ્ફટિકની રચનાને પુનઃરચના માટે પરવાનગી આપવા માટે પૂરતા લાંબા સમય માટે ડાઇલેક્ટ્રિકના ક્યુરી તાપમાનથી ઉપરના તાપમાનના સંપર્કમાં આવવાથી (અથવા ઉપકરણ "ડી-એજિંગ") રીસેટ કરી શકાય છે;તાપમાન જેટલું ઊંચું છે, તેટલો ઓછો સમય જરૂરી છે.ઘણા સિરામિક ડાઇલેક્ટ્રિક્સનું ક્યુરી તાપમાન ઘણી સોલ્ડરિંગ પ્રક્રિયાઓમાં જોવા મળતા તાપમાન કરતા ઓછું હોવાથી, એસેમ્બલી દરમિયાન ઉપકરણ ઓછામાં ઓછું આંશિક રીતે વૃદ્ધ હશે તેવી શક્યતા છે.

ઘટકની આ વૃદ્ધ વર્તણૂક સામાન્ય રીતે કલાકના દાયકા દીઠ કેપેસીટન્સમાં ટકાવારી ફેરફાર તરીકે દર્શાવવામાં આવે છે, જે "છેલ્લી ગરમી" પર માપવામાં આવેલ કેપેસીટન્સની તુલનામાં, છેલ્લી વખત જ્યારે ઘટક તેના ક્યુરી તાપમાનથી તેના સ્ફટિકને સંપૂર્ણપણે બદલવા માટે પૂરતા લાંબા સમય સુધી ગરમ કરવામાં આવ્યું હતું. માળખુંબીજા શબ્દોમાં કહીએ તો, "ઓવન ફ્રેશ" સ્થિતિમાં 100uF પર માપવામાં આવેલ (-)5% ના વૃદ્ધ દર સાથે કેપેસિટર, 1, 10 અને 100 કલાક પછી પકાવવાની નાની ભઠ્ઠીમાંથી આશરે 95,90 અને 85uF માપવાની અપેક્ષા રાખવામાં આવશે. , અનુક્રમે.

સ્વાભાવિક રીતે, આનાથી ઘટકની નજીવી ક્ષમતા શું હોવી જોઈએ તે અંગે પ્રશ્ન ઊભો થાય છે, અને જો તે રકમ સતત બદલાતી રહે છે, તો ઘટકનો ઉપયોગ શેલ્ફ પર કરવામાં આવશે, પછી ભલે તે તેના મૂળ પેકેજિંગમાં ઉપયોગ ન થયો હોય.ઉદ્યોગ ધોરણો EIA-521 અને IEC-384-9 આ મુદ્દાને સંબોધિત કરે છે, મૂળભૂત રીતે જણાવે છે કે ઘટક છેલ્લી ગરમી પછી 1000 કલાક (આશરે 42 દિવસ) તેના નિર્દિષ્ટ સહનશીલતા મૂલ્ય સુધી પહોંચવું જોઈએ.આગામી દસ વર્ષનો ચિહ્ન (10K અને 100K કલાક) અનુક્રમે 1 વર્ષથી થોડો વધુ અને 11 વર્ષથી થોડો વધુનો અનુવાદ કરે છે.બાબતોને વધુ જટિલ બનાવવા માટે, વૃદ્ધત્વ પ્રક્રિયા તાપમાન આધારિત દરે થાય છે;ડાઇલેક્ટ્રિકના ક્યુરી તાપમાન સુધી, ઉપકરણના તાપમાનમાં વધારો સામાન્ય રીતે વૃદ્ધત્વ પ્રક્રિયાને વેગ આપે છે.

કારણ કે વૃદ્ધત્વની ઘટના ઉપકરણોને તેમની નિર્દિષ્ટ સહનશીલતાની બહાર દેખાઈ શકે છે, ઉત્પાદન ડિઝાઇનર્સ અને ઉત્પાદન પરીક્ષકોએ આ હકીકતથી વાકેફ હોવા જોઈએ;તાજા પુનઃપ્રવાહિત ઘટકોના પરીક્ષણમાં સહેજ ઊંચા કેપેસિટેન્સ મૂલ્યોની અપેક્ષા રાખવી જોઈએ, અને ડિઝાઈનમાં ઉપકરણની ઉંમર પ્રમાણે સામાન્ય કામગીરીને સમાવવા માટે પૂરતો માર્જિન હોવો જોઈએ.પાવર કન્વર્ઝન સર્કિટ્સ એ એક સારું ઉદાહરણ છે કે જ્યાં આ અસર ગંભીર ખતરો પેદા કરી શકે છે, કારણ કે સિરામિક કેપેસિટર્સ સામાન્ય રીતે આવા સર્કિટના નિયંત્રણ લૂપ્સને વળતર નેટવર્ક ઘટકો તરીકે અથવા ફિલ્ટર તત્વો તરીકે મજબૂત અસર કરે છે.એસેમ્બલી દરમિયાન કેપેસિટર વૃદ્ધત્વના પ્રભાવ હેઠળ સ્થિર દેખાતી સિસ્ટમો સમય જતાં ઓછી સ્થિર થઈ શકે છે, કારણ કે વૃદ્ધત્વને કારણે કેપેસીટન્સનું નુકસાન નિયંત્રણ લૂપની ગતિશીલતાને અસર કરે છે.સૌથી અગત્યનું, જો સમયાંતરે સ્થિર કેપેસીટન્સ મૂલ્યો મહત્વપૂર્ણ હોય, તો દેખીતી રીતે વૃદ્ધ કેપેસિટર્સનો ઉપયોગ કરવાનું ટાળો.

Zhejiang NeoDen Technology Co., LTD., 2010 માં સ્થપાયેલ, અમે તમને માત્ર ઉચ્ચ ગુણવત્તાની pnp મશીન જ નહીં, પરંતુ વેચાણ પછીની ઉત્તમ સેવા પણ પૂરી પાડવા માટે સારી સ્થિતિમાં છીએ.સારી રીતે પ્રશિક્ષિત એન્જિનિયરો તમને કોઈપણ તકનીકી સહાય પ્રદાન કરશે.

10 એન્જિનિયરો શક્તિશાળી વેચાણ પછીની સેવા ટીમ 8 કલાકની અંદર ગ્રાહકોના પ્રશ્નો અને પૂછપરછનો જવાબ આપી શકે છે.

વ્યવસાયિક ઉકેલો કામકાજના દિવસ અને રજાઓ બંને 24 કલાકની અંદર ઓફર કરી શકાય છે.